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MTBF 与 FIT
电子与硬件MTBF 是平均无故障时间（小时），FIT 是每十亿器件小时的失效数，两者互为倒数换算：FIT = 10⁹/MTBF。
#两套单位，两个视角
MTBF 直观（"平均 50 万小时坏一次"），适合整机与系统口径；FIT 更适合元器件级累加——系统失效率 = 各器件 FIT 直接相加，再换算回 MTBF = 10⁹/ΣFIT。例：50 个器件各 250 FIT，系统 ΣFIT=12,500，MTBF = 80,000 小时。注意 MTBF 是失效率的倒数，不是"能用多少年"：设备每天用 8 小时，MTBF 50 万小时折合日历寿命约 170 年——它描述的是统计失效率，不是预期寿命。
#AFR 与加速试验
AFR（年失效率）= FIT × 8.76（十亿小时折一年）。实验室加速用 Arrhenius 模型：AF = exp(Ea/k × (1/T_use − 1/T_stress))，激活能 Ea 常取 0.7eV（硅器件经验值，具体失效机理有差异），125℃ 老炼相对 55℃ 工作的加速因子约 300 倍——烧 48 小时约等效现场 4 年。
#与 DPPM 的区别
DPPM 管出厂批次不良（质量），MTBF/FIT 管使用期失效率（可靠性）。测试把 DPPM 压到零也改变不了设计裕量决定的 FIT——两者来自完全不同的改进路径。
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本页目录
- #两套单位，两个视角
- #AFR 与加速试验
- #与 DPPM 的区别
更新于 2026-11-05
#关于「MTBF 与 FIT」的常见问题
MTBF 是平均无故障时间（小时），FIT 是每十亿器件小时的失效数，两者互为倒数换算：FIT = 10⁹/MTBF。
本词条属于电子与硬件分类，与 其他基础概念 等概念紧密相关。如果你刚开始接触本地大模型部署，建议按「基础概念 → 模型与量化 → 推理与部署」的顺序阅读相关词条，配合 GPU 检测工具 边学边验证自己硬件的可行方案。