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过程能力指数（Cpk）
电子与硬件Cpk 衡量稳定过程输出落在规格限内的能力：Cpk = min(USL−μ, μ−LSL)/(3σ)，≥1.33 通常判定能力充足。
#Cp 与 Cpk
Cp 只看分散度（规格宽度/6σ），假设过程居中；Cpk 额外考虑偏心，取规格上下限中较近的一侧除以 3σ。Cp 高而 Cpk 低 = 过程能力够但中心偏了，把均值调回目标即可；两个都低 = 波动本身太大，要从设备、材料、方法上收窄 σ。
#短期 σ 与长期 Ppk
短期 σ 用组内极差（R̄/d₂）或组内标准差估计，对应 Cpk；长期用全体样本标准差，对应 Ppk。Cpk 1.33 而 Ppk 只有 0.9 的典型含义是组内稳定但批次间在漂移——查换料、换班、治具磨损这类系统性因素。
#常见判定档
- < 1.00：能力不足，全检或停产整改
- 1.00-1.33：有条件接受，加强监控
- ≥ 1.33：能力充足（汽车与电子代工常用门槛）
- ≥ 1.67：接近六西格码水平
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本页目录
- #Cp 与 Cpk
- #短期 σ 与长期 Ppk
- #常见判定档
更新于 2026-11-05
#关于「过程能力指数（Cpk）」的常见问题
Cpk 衡量稳定过程输出落在规格限内的能力：Cpk = min(USL−μ, μ−LSL)/(3σ)，≥1.33 通常判定能力充足。
本词条属于电子与硬件分类，与 其他基础概念 等概念紧密相关。如果你刚开始接触本地大模型部署，建议按「基础概念 → 模型与量化 → 推理与部署」的顺序阅读相关词条，配合 GPU 检测工具 边学边验证自己硬件的可行方案。