DPPM良率计算器

#DPPM 是什么、怎么算？

DPPM（Defects Per Million，百万分之不良）是电子产品出厂质量的标准口径：DPPM = 不良数 f ÷ 总数 N × 10⁶。 与良率的换算是同一枚硬币的两面：良率 Y = (1 − f/N) × 100%，DPPM = (1 − Y) × 10⁶。 例如 10,000 只出货中发现 30 只不良，DPPM = 3,000，良率 99.7%。反向也很常用：客户要求 DPPM ≤ 5,000、批量 10,000 只， 则整批最多允许 ⌊5,000 × 10,000 ÷ 10⁶⌋ = 50 只不良。

#为什么零不良不等于零 DPPM？

「这批 1,000 只全检无不良」并不代表真实不良率是 0——样本里没看到不良，只是说明不良率大概率低于某个界限。 把 f 当作二项分布 B(N, p) 的观测值，对 p 做单侧置信估计：f = 0 时上限有精确闭式 p ≤ −ln(1−c)/N； f > 0 时上限为卡方形式 p ≤ χ²(2(f+1), 1−c) / (2N)（等价于对不完全伽马函数数值求逆）。 本工具与 TI 可靠性计算器采用同一口径。这就是「零不良 ≠ 零 DPPM」：可以宣称的是「不良率不超过上限」，而不是 0。

#60% 置信的行业惯例从哪来？

60% 置信上限是 TI 等半导体厂商可靠性手册和 JEDEC 相关实践里常用的「典型值」口径：以 60% 置信报告的失效率叫典型失效率， 用于规格书与内部目标；而面对客户协议、车规审核或安全相关承诺，通常要求 90% 甚至 60/90 双口径同时给出。 注意置信度越高上限越松：同样 1,000 只零不良，60% 置信上限约 916 DPPM，90% 置信约 2,303 DPPM—— 承诺前先确认对方要的是哪个口径，否则数字会差 2.5 倍。

#滚动良率的乘法衰减

多道工序的总良率是各站良率的连乘积，不是相加：CP 95% × FT 98% × 老化 99% = 92.169%，等效总 DPPM = 78,310。 站数越多总良率衰减越快（每站 99% 的十道工序总良率只有约 90.4%），这就是产线「处处都还行、总良率却很难看」的数学原因。 也因此改善优先级应该给最差一站：把 95% 的 CP 提到 98%，总良率立涨约 2.9 个百分点，比任何中等站的大幅优化都划算—— 这正是本工具高亮最差站并给出「提升到次差站水平」收益测算的原因。

#DPPM、FIT 与 AQL 的区别

• DPPM：出厂缺陷率口径，管「这批货交出去之前」的质量水平，按只数计数。
• FIT：现场可靠性口径，单位是每 10⁹ 器件小时的失效数，管「出货之后在用户手里」的随机失效与寿命行为，与 DPPM 不能直接换算。
• AQL：抽样验收口径（GB/T 2828.1 / ISO 2859-1），管「用多大的抽检方案、按什么接收界限判定批合格」，是交易检验规则而不是质量水平本身。具体抽样方案可用 AQL 抽样检验计算器 查询。

#抽检与全检的 DPPM 口径差异

全检（100% 检验）的 DPPM 直接由计数得到，是这批的观测值；抽检得到的 DPPM 是估计值，必须带置信区间或置信上限才有意义—— 同样是「抽 315 只发现 0 不良」，60% 与 90% 置信的上限差 2.5 倍。用 AQL 方案验收合格的批，其过程平均 DPPM 仍可能高于 单批观测值，两者口径不能混用：AQL 回答「这批收不收」，DPPM 回答「这条线质量水平如何」，置信上限回答「最坏能差到哪」。

#常见问题 (FAQ)